Alfamation发布衍射光学元件(DOE)功能测试仪

03/12/2018
 Alfamation是先进交钥匙测试和测量解决方案领域的领先供应商,现推出用于衍射光学元件的晶圆级测试仪,用于生产线中的大批量微光学测试。这可为制造商提供快速而精确的反馈,以优化和监控其工艺,并实现完整的晶圆映射和质量控制,由此识别有缺陷的元件。

DOE是一块作用相当于镜头的塑料,例如智能手机中的相机模块。DOE如今的应用越来越广泛,包括电话中的面部识别功能。全新机器测试塑料的光学特性,且通常用于测试晶圆级DOE。具有数千个DOE的直径为400 mm的晶圆可以在一次高速全自动测试中接受测试和认证。

“新系统采用创新测量方法,借助定制设计的‘继电光学',可以在广阔的视野范围内拾取DOE发出的所有光,并将其聚焦在大型相机传感器上。”Alfamation首席执行官Mauro Arigossi说,“采用这种方法,灵敏度能够高于竞争对手的测试仪,因为所有待测光都直接进入传感器,从而实现更快的测试和更高的生产吞吐量。”

DOE测试仪包括一台定制广角锥光透镜,与高分辨率相机耦合。具有受控衍射的准直激光束用于刺激DOE,以产生由多个输出光束组成的衍射图案。激光光源为一个光纤耦合激光二极管,通过一系列光束整形光学元件,实现灵活的光束形状和偏振态,满足客户的特定要求。

然后,所感测的输出图像将被传送到计算机以通过快速算法接受处理,该快速算法可对DOE的衍射图案均匀性和总功率效率进行计算。该系统提供90°×90°的最大视场(FOV),整个视场的分辨率为0.25°。

新型测试仪基于高端晶圆处理系统,具有坚固的设计和灵活的架构。此外可选自动晶圆处理功能,有助于节省时间并降低生产线上的人工成本。

系统可达到3000 UPH(每小时单位)以上的测试速度,每个样品的平均测量时间为1秒。这不仅有助于加速生产,而且还能够降低机器使用寿命期间每单位的测试成本。

DOE测试仪可以适应客户的特定要求,有助于提高设计灵活性,在精确测试中定位可重复性高,配备对中工具和视觉检查系统,而且还具有条形码/OCR读取系统和可选的晶圆翘曲校正功能。

此系统占地面积小,适用于洁净室,尺寸为1350 mm(高)×1330 mm(宽)×675 mm(深),符合CE/UL安全标准,并提供ISO 5洁净室兼容性。

Alfamation的SuperNova软件解决方案基于NI TestStand,可轻松与数据库集成,用于结果存储和分析、测试多样性的管理以及测试序列的开发和定制。

Alfamation在这一市场拥有丰富经验,自2000年以来一直担任主要电信公司的供应商,包括为智能手机提供晶圆级光学测试设备,拥有其他公司无法提供的光学、电子、软件和系统方面的专业知识,而这些正是构建此类测试系统所必需的。


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